Nicolas Moltmann

Nicolas Moltmann hat an der Technischen Universität Berlin Physik und Informatik studiert. In seiner Diplomarbeit untersuchte er die Eignung der spektralen Ellipsometrie – einem optischen Messverfahren – zur Charakterisierung von dünnen Halbleiterschichten.

Bereits während des Studiums war Nicolas Moltmann als Tutor beim Entwurf und Aufbau von Demonstrationsexperimenten tätig. Während seiner Berufstätigkeit bei der Strahlenmessstelle Berlin vertiefte er seine Kenntnisse in der computergestützten Messtechnik zur Bestimmung von radiologischen Belastungen.

Seit 2006 war Nicolas Moltmann zunächst als Patentreferent für die Kanzlei Weisse & Wolgast tätig. Im Jahr 2009 begann er mit der Ausbildung zum Patentanwalt bei der Kanzlei Weisse & Wolgast, dem Deutschen Patent- und Markenamt und dem Bundespatentgericht. 2012 wurde Nicolas Moltmann als deutscher Patentanwalt zugelassen. Zusammen mit Jörg Weisse und Volker Willems gründetet er 2013 die Partnerschaftsgesellschaft Weisse, Moltmann & Willems.

Mitglied bei VPP, FICPI, Patentanwaltskammer, DPG

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